全自动SAXS/WAXS/USAXS散射线站
[ 基础信息 ]
生产国家 : 中国
制造厂商 : 法国Xenocs（赛诺普公司）
购置日期 : 2023-06-01
规格型号 : Xeuss 3.0
[ 分类信息 ]
设备类型 : X射线仪器
设备编号 : S2423205
[ 联系信息 ]
联系人 : 林悦健, 任远航
存放地址 : 江湾校区化学楼A0012室
联系电话 : 31249117, 19916768107
联系邮箱 : linyj@fudan.edu.cn
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
实验室级别的全自动SAXS/WAXS/USAXS散射线站用于研究材料的原子堆积方式，可以得到材料晶体结构及晶粒信息，例如晶型、晶体尺寸、晶体含量、晶体取向、晶体缺陷等结构参数之外，还可以原位或者现场检测材料晶体结构在外场（力、热、声、光和电等）条件下转变。掠入射(Grazing Incidence, GIWAXS)测试模式基底上薄膜晶体结构，基底可以是光滑固体晶面、液面，薄膜厚度从単分子层到微米厚，可以分别得到薄膜在基底面内和面外的晶体结构。除了静态的结构表征，还可以在温度场等外场中进行动态结构表征，探索结构演变的过程机制。
主要规格及技术指标 :
1. 二维探测器到样品的最大距离≥1800 mm 2. 探测器到样品的最小距离≤ 45 mm 3. 掠入射角：Omega轴自动旋转范围：-3°～+5°，精度：0.002° 4. 最大计数率：≥ 6.8×10^8 phs/mm2 5. 二维小角最小可测散射矢量q_min≤0.006 nm^-1 6. 二维SAXS可表征≥500 nm尺度的纳米结构，包括二维散射图谱和完整的第一级散射峰。
